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“一種用于二代證的檢測(cè)方法及其設(shè)備”日前獲得國(guó)家發(fā)明專(zhuān)利，發(fā)明人為王立建、馮敬、袁理、王強(qiáng)、王昆等。 專(zhuān)利號(hào)為ZL2006 1 0089779.4。專(zhuān)利權(quán)人為中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所和北京同方微電子有限公司。
    隨著我國(guó)第二代居民身份證項(xiàng)目的全面啟動(dòng)，大量的第二代居民身份證面臨著一個(gè)檢測(cè)標(biāo)定的問(wèn)題。為了保證二代證產(chǎn)品的質(zhì)量，克服現(xiàn)有檢測(cè)設(shè)備技術(shù)上的不足，通過(guò)技術(shù)攻關(guān)，研制了一種使用方面、檢測(cè)精確的用于第二代居民身份證的檢測(cè)方法及其設(shè)備。該設(shè)備能通過(guò)對(duì)磁場(chǎng)強(qiáng)度、載波頻率、調(diào)制深度大小的調(diào)整實(shí)現(xiàn)對(duì)第二代居民身份證的電性能檢測(cè)。同時(shí)亦可用于非接觸式IC卡的性能分析與標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試